紐邁分析|顆粒表面特性分析新技術(shù)
更新時(shí)間:2016-08-17 點(diǎn)擊次數(shù):2249次
紐邁分析|顆粒表面特性分析新技術(shù) | | 8月12-14日,我們頂著“蒸烤煮燜”的酷暑,拋卻“空調(diào)Wifi西瓜”的愜意,來到的歷史、文化、旅游名城成都,參加“中國顆粒學(xué)會(huì)第九屆學(xué)術(shù)年會(huì)暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會(huì)”,屆時(shí),紐邁分析將在大會(huì)上做主題為“顆粒表面特性分析技術(shù)”的報(bào)告,精彩紛呈,不容錯(cuò)過。 | | PQ001顆粒表面特性分析儀 | | 你是否還在為測量顆粒表面特性選擇何種方法所困擾?你是否還在為測量的漫長時(shí)間而煩躁?你是否還在為測量的繁瑣過程而頭疼?你是否還在為測量結(jié)果的準(zhǔn)確性而擔(dān)憂?恭喜你,你不用再煩惱啦,紐邁分析自主研發(fā)的新技術(shù)——顆粒表面特性分析技術(shù),能幫你解決這些難題。 | | 該項(xiàng)技術(shù)能在非破壞的條件下連續(xù)監(jiān)測懸浮液狀態(tài)下顆粒與溶劑之間的表面化學(xué)、親和性、潤濕性,與傳統(tǒng)的測量技術(shù)相比,其具有明顯的優(yōu)勢: 1.測試簡單、快速,整個(gè)測試過程在3min內(nèi); 2.樣品無需預(yù)處理,無需引入外部試劑; 3.測試結(jié)果可靠且穩(wěn)定性高、重復(fù)性好; 4.適用性廣,可測量任何大小、形狀的顆粒。 | | 案例1:測定SiC顆粒濕式比表面積 快速直接測定SiC顆粒比表面積,探究*研磨時(shí)間
| | 顆粒表面特性分析技術(shù)適用范圍: 1、顆粒:SiO2、SiC、ZnO、Al2O3、BaCO3、石墨烯、活性炭、炭黑等一百多種; 2、懸浮體系溶劑類型:水、乙醇、丁酮、甲苯等各類含H質(zhì)子溶劑。 功能軟件: 1、測試頁面包括測量設(shè)置區(qū)和結(jié)果顯示區(qū),設(shè)置與測量分開,直觀方便; 2、軟件集成一體化,對操作人員無特殊要求; 3、測試過程簡單快速,利用特定的核磁序列直接測試,穩(wěn)定性高。 | | 顆粒表面特性分析儀除了能測量懸浮液體系顆粒比表面積,還能測試顆粒表面的其他特性,感興趣的話可以來紐邁分析展臺(tái)(14號)或者訪問紐邁分析咨詢,而且紐邁分析有分析測試中心,歡迎各位來樣測試。 | 案例2:分散劑對顆粒比表面積的影響 加入分散劑后,比表面積顯著增加,有利的證明了此分散劑的性能
| 八月,紐邁分析攜的“顆粒表面特性分析技術(shù)”,邀您一起來“天府之國”成都,蒞臨紐邁展位(14號),專業(yè)的應(yīng)用解決方案,強(qiáng)大的研發(fā)生產(chǎn)能力,完善的售后服務(wù)能力,總有一項(xiàng)能打動(dòng)您,還有神秘禮品拿哦! |
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